为了提供更全面的服务，也为了使各位用户对本公司的 X 射线荧光镀层厚度测量仪有更全面的了解、并更熟练地使用，本公司定于2009 年06 月12日 举行SFT用户初级应用培训讲座。
    在此，诚邀贵司的相关人员前往参加。
    应用培训讲座的主题将着重于设备的操作、 X 射线荧光原理、样品的分析应用、测量要点及辐射安全等多方面。届时，将由本公司资深技术人员与您共同就膜厚分析技术、日常使用中所碰到的各种问题及您所关心的其它事项进行交流和探讨。
    请将以下回执函填妥后通过传真或电子邮件等形式提前一周报名（人数限额 50 名，报名顺序以回执的收到日期为准，敬请谅解）。 为便于统计及联系，请在回执中注明参加人员的相关讯息。