|
|
|
|
|
|
| 2007 |
|
神奈川县横浜市设立横浜实验室 |
|
|
|
| 2006 |
|
发表与德国Carl Zeiss NTS公司
共同开发、销售的战略的业务合作。 |
|
|
|
| 2005 |
|
2005 美国Radiant Detector Technologies,LLC和Photon Imaging Inc.把X射线检测器事业转给SII NanoTechnology USA Inc. |
|
在世界上率先销售配备有FIB、SEM、Ar离子束的三倍电子束仪器(SMI3000TB系列) |
|
| 2005 |
|
公司本部迁至:日本国东京都中央区 |
|
|
|
| 2005 |
|
在美国加利福尼亚设立SII NanoTechnology USA Inc. |
|
发布可对应65纳米半导体制程工艺的光掩膜修复用聚焦粒子束(SIR7000FIB) |
|
| 2004 |
|
|
|
发布与松下电器产业有限公司共同开发的有害物质判定软件(HS Easy) |
|
| 2004 |
|
2004 在中国上海设立百分之百全额投资的精工盈司电子科技(上海)有限公司。 |
|
发布分辨率4mm的FIB和高性能SEM的复合仪器 (SMI3000SE系列) |
|
| 2004 |
|
|
|
发布采用无需液氮检测器的有害物质测量仪(SEA1000A) |
|
| 2003 |
|
由于公司分割继承了精工电子股份有限公司 的科学仪器事业,同时也获得了销售科学仪器保养消耗品的有限公司(EPOLEAD)的股份 |
|
发布分辨率4纳米的聚焦离子束(SMI3000系列) |
|
| 2003 |
|
SII Microscope更名为SII Nano Technology |
|
|
|
| 2002 |
|
|
|
发布可对应90纳米半导体制程工艺的光掩膜修复用聚焦粒子束(SIR5000)。 |
|
| 2001 |
|
|
|
在世界上率先开发75W高输出微小区域膜厚仪,对应微小区域测量(SFT9300系列)。 |
|
| 2000 |
|
精工电子股份有限公司以开发制造销售小型探针显微镜为目的,设立了公司的前身SII Microscope |
|
发布分辨率为5纳米的扫描离子显微镜(SMI2000系列) |
|
| 1999 |
|
|
|
1999 发布配备有CCD检测器的能同时测量多种元素的ICP等离子体发射光谱仪(SPS5000) |
|
| 1999 |
|
|
|
发布小型的便携式X射线荧光元素分析仪(SEA200) |
|
| 1998 |
|
日本小山工厂取得 ISO14001 认证 |
|
发布多功能型SPM系统(SPA-400) |
|
| 1998 |
|
|
|
1998 发布台式小型探针显微镜(Nanopics) |
|
| 1997 |
|
精工电子工业更名为精工电子股份有限公司 |
|
|
|
| 1996 |
|
|
|
发布对应0.18微米设计规则的光刻掩模板(Photo mask)黑白缺陷修正装置(SIR3000) |
|
| 1995 |
|
|
|
发布环境管制型SPM(SPA-300HV) |
|
| 1995 |
|
精工电子工业以科学仪器产品的保养、消耗品的销售为目的,设立Epolead有限公司 |
|
发布扫描型近视野观察用原子力显微镜(SNOAM) |
|
| 1994 |
|
|
|
发布分辨率为10纳米的离子显微镜(SMI9000系列) |
|
| 1994 |
|
|
|
使用对应微小区域测量的X射线荧光元素分析仪在世界上率先实现微小区域50Φμm光束 |
|
| 1992 |
|
|
|
采用微聚焦技术的管球在世界上率先采用微小区域Φ50μm的准直器(SFT3000系列) |
|
| 1991 |
|
|
|
发布原子间力显微镜(AFM)(SFA300) |
|
| 1990 |
|
|
|
发布多功能扫描型探针显微镜对应的探针station(SPI3600) |
|
| 1988 |
|
|
|
采用独自开发的半导体检测器,在世界上率先发布对应微小区域的X射线荧光膜厚仪(SFT8000) |
|
| 1987 |
|
|
|
在日本国内率先发布STM(SAM3000) |
|
| 1987 |
|
|
|
发布配备真空分光器的ICP等离子体发射光谱仪(SPS1200V) |
|
| 1986 |
|
|
|
发布多功能热分析系统SSC5000系列 |
|
| 1986 |
|
|
|
发布FIB分辩率为50纳米的FIB截面加工观察仪(SMI8000系列) |
|
| 1986 |
|
|
|
在电子技术综合研究所的指导下,在日本国内率先成功使用STM观察原子图像 |
|
| 1985 |
|
|
|
SIR1000掩膜修正专用仪器的商品化:利用聚焦粒子束FIB的沉积和刻蚀功能完成对掩膜上纳米级缺陷的修正 |
|
| 1983 |
|
第二精工舍更名为精工电子工业股份有限公司 |
|
|
|
| 1980 |
|
|
|
发布了日本国内第一个由电脑控制的连续型ICP等离子体发射光谱仪(JY-38PⅡ) |
|
| 1979 |
|
|
|
在世界上率先发布热重-差热综合分析仪TG/DTA(SSC560G、SSC560GH) |
|
| 1978 |
|
|
|
发布多波道型ICP等离子体发射光谱仪(JV48P) |
|
| 1978 |
|
|
|
在世界上率先发布不使用放射性同位元素的对应微小区域的台式X射线荧光膜厚仪。(SFT155/156) |
|
| 1978 |
|
|
|
在世界上率先在热分析仪器中导入电脑技术(SSC560) |
|
| 1974 |
|
|
|
推出绝热扫描型微小热量仪(SSC510 |
|
| 1973 |
|
第二精工舍在静冈县骏东郡小山町设立小山工厂,作为科学仪器事业的制造点 |
|
推出分析石油中硫黄的X射线荧光元素分析仪(SFA130) |
|
| 1972 |
|
第二精工舍为了制造和销售分析・计量仪器设立科学仪器部 |
|
|
|
| 1971 |
|
|
|
发布做为商品条形码、开发原子吸光光谱强度计、热分析装置、荧光X射线膜厚线尺 |
|
| 1970 |
|
第二精工舍为了开发手表以外的新事业领域,在公司内设立RD中心,开始研究开发分析・计量仪器事业领域(科学仪器事业) |
|
|
|
| 1937 |
|
服部钟表店的精工舍的手表部独立后,设立了第二精工舍有限公司(现在为精工电子有限公司) |
|
|
|
| 1881 |
|
服部金太郎通过个人经营开设了钟表零售业服部钟表店(现在为精工有限公司) |
|
|
|