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首页>产品一览>聚焦离子束(FIB)
聚焦离子束(FIB)
XVision300 系列
FIB-SEM双束、三束系统
   
  在SMI3000系列的基础上研制的高性能全自动双束/三束系统,是在精工电子纳米科技有限公司电子束镜筒完美结合的系统。可对应八英寸以及12英寸的晶圆。
 
 
 
   
小型高性能聚焦离子束SMI3050
  从半导体器件到各种材料的研究,,FIB已经成为必不可少的手段。SMI3050聚焦离子束以其卓越的性能,,在进行高精度的微纳米加工以及高清晰度观察方面,深受客户的好评。
 
 
 
   
SMI3200型聚焦离子束装置
  SMI3200是可以直接对应8英寸晶圆的聚角离子束系统。在拥有高清晰度的观察和快速加工等特点的同时,高精度的全自动加工软件,,实现了微纳米加工的无人化操作。
 
 
 
   
SMI3300型聚焦离子束装置
  可对应12英寸晶圆的聚焦离子束系统。全自动的加工软件,高清晰度的观察,高精度的样品加工,大大的提高了晶圆制作过程中的失效检查效率和质量。
 
 
 
   
SOM3355-IR 激光功能带红外观察
光学显微镜
 
  是半导体的失效点定位,提高半导体生产的良率的有效手段之一。它运用了红外线的技术,从晶圆的背面进行失效点的观察并运用激光对观察到的失效点进行定位,从而大大的缩短了用FIB对失效点进行定位的时间。
 
 
 
 


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