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X射线荧光元素分析仪(SEA)
X射线荧光膜厚测量仪(SFT)
 等离子体发射光谱仪(ICP)
热分析、粘弹性仪(TA)
原子力显微镜(SPM)
聚焦离子束(FIB)
光掩膜修复(SIR)
       
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SII NanoTechnology Inc. 是一家以研发、生产及销售分析检测仪器的具有世界领先地位的公司。我们的宗旨是以最先进的技术,为我们的用户提供解决方案,为世界的发展做出贡献。
 
  能量色散型X射线荧光分析仪(SEA)  
拥有无需液氮、高精度测量、简单操作等特点,可满足各种测量需求的WEEE&RoHS、ELV对应机型及专业测量土壤中有害物质的机型列表。
能量色散型X射线荧光分析仪(SEA)
 
  X射线荧光镀层厚度测量仪(SFT)  

从基本配置到配备双检测器的高级机型的SFT9000系列。可对应各种镀层厚度测量需求。

X射线荧光镀层厚度测量仪(SFT)
 
  热分析(TA)  
EXSTAR系列是结合了自动进样器(DSC/TGA/DTA)及各种冷却系统等的多功能系统。
热分析(TA)
  扫描探针显微镜(SPM)  
汇集了从环境控制仪器到可对应高深宽比样品的各种机型。
扫描探针显微镜(SPM)
  聚焦离子束(FIB)/扫描离子显微镜(SEM)  
实现了分辨率为4nm的高分辨率聚焦离子束。与SEM组合后,用一台设备制作出高品质TEM样品变为可能。
聚焦离子束(FIB)/扫描离子显微镜(SEM)
  等离子体发射光谱仪(ICP)  

SPS8000型等离子体发射光谱仪是目前世界上体积最小的单道扫描型发射光谱仪,具有高灵敏度、高精密度及良好的安全性的特点。

等离子体发射光谱仪(ICP)
  元器件观察/光掩模修复(SIR)  

SPM型光掩模修复装置、液晶用光掩模修复装置全新上市。

元器件观察/光掩模修复(SIR)
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