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SFT9500系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
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X射线发生系统为X射线聚焦光学系统（聚焦导管）与X射线源相结合，并且可以照射出实际照射直径为0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此，可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、高分辨率的半导体检测器，在测量镀层厚度的同时，也能对RoHS、ELV、中国版RoHS等法规所管制的有害物质进行分析测量。 |
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SFT9400系列 X射线荧光镀层厚度测量仪 |
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SFT9000系列里最好的机型“SFT9455”，搭载 |
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75W高速X射线管和双重检验装置(半导体检验装 |
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置十比例计数管)。适用“薄膜”、“金属 |
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膜”、“极微小部分测定”等所有镀膜膜厚测 |
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定要求的高性能膜厚测量仪器。而且 |
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“SFT9455”在镀膜厚度测量功能的基础上还可 |
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以用作异物定性分析和材料成分分析。 |
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SFT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪 |
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是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。SFT |
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系列是本公司标准机型。有适用小型部件的 |
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SFT9200、有适用大型印刷基板的SFT9255。防 |
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止样品和仪器装备结构不吻合的功能是本系列 |
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的标准装备。 |
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SFT9100M X射线荧光镀层厚度测量仪 |
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是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。可以 |
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测定结构部件有凹凸的样品和印刷基板等大面 |
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积样品。对照采用激光射线的Z轴方向的焦点， |
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可以发挥测定值的再现性。而且物美价廉。 |
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