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连续多点测量 |
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| 最多可指定500个测量位置进行自动多点连续测量。在测量大量的样品时可发挥高效率。 |
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最多500个样品自动测量功能让操作更省力。 |
 观看视频 |
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RoHS分析例子 |
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通过使用微小X射线线束，对复合样品也可进行特定部位的测量。 |
| ■CU合金中的Cd分析案例 |
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■导线材料中的Cd分析案例 |
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快速扫描微小区域的微量金属 |
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可在短时间内测量微小区域中的微量金属和薄膜。 |
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黄铜中Cd,Pb,Cr |
Sn中Pb |
塑料中Cd,Pb,Hg,Br,Cr |
| 3mm |
80sec |
40sec |
70sec |
| 1.2mm |
150sec |
40sec |
80awc |
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Cd 为30ppm，其它元素为200ppm检测下限时的测量时间。 |
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印刷线路板中氯浓度的测量 |
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针对无卤化测量的需求，即使是微小区域中的Cl、Br的测量也实现了高灵敏度。
另外，由于采用上方照射的方式，即使对于凹凸不平的印刷线路板，也可精确地指定测量位置。
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微小区域膜厚测量 |
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SEA6000VX也可对应SFT系列公认的镀层膜厚测量。极薄Au镀层等的膜厚测量自不必说，就连镀层中含有的Pb等的有害物质分析与膜厚测量也可同时进行。例如，可进行无铅焊锡镀层和引线架的Sn镀层，无电解Ni镀层中含有的有害物质的浓度测量。 |
| ■Sn-Ag/Cu的膜厚、组成比测量 |
皮膜中的有害物质分析（Pb）
分析范围：o1.2mm
薄膜FP法
测量时间：100秒（Pb滤波器）
30秒（无滤波器） |
■Au/Ni/Cu的膜厚测量 |
测量面积：o0.2mm
标准曲线法
测量时间：30秒 |
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