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高清晰图像 |
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| 可获得250mm×200mm的20μm以下高清晰度的光学影像，能够进行高精度的图像解析。 |
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■位置指定
在大面积样品图像（左）上的任意地方，只需移动鼠标来确认线路板上的部件编号后，就可进行数码变焦。12倍变焦让操作更自由更简单。 |
 观看视频 |
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自动定位 |
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上方照射型的X射线荧光分析仪可通过手动方式进行高度调整，但是安装了激光传感器的SEA6000VX拥有了［自动样品高度测量］的功能，可以自动调整最接近样品的高度，让操作更便捷。同时还可以防止由操作失误所造成的仪器、样品的损坏。 |
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高精度重叠功能 |
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采用了广域光学系统和高精度XY样品台，通过样品图像和扫描图像的完全重叠，可进行大范围的高精度分析。非广域光学系统，在测量凹凸的样品的情况下，样品图像指定的点和扫描图像的点无法一致，分析就变得非常困难。 |
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通过样品图像和扫描图像的重叠，可简单认定目标元素的含有区域。重叠位置精度在100μm以内。
最多3个元素可同时和样品图像的重叠，也可变化重叠的顺序。另外，具有重叠图像的半透明表示和颜色搭配的调整等多种工具，大幅提高了分析的能力。
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■高精度重叠功能的Pb分析事例 |
| 图1 Pb在最上面的显示示情况 |
图2 Sn在最上面的显示情况 |
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由图1可知A、B都含有铅。从图二可知只有A含有Sn。由此可得知A为焊锡中的铅，B为贴片电阻中的铅。 |
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连续测量的报告输出 |
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只需点击一下测量结果即可生成EXCEL。另外，测量结果可在总报告书里对测量信息，测量日期和测量结果等进行确认。通过点击样品编号，还可生成有关测量条件，样品图像，能谱等的Ａ4格式的详细报告书，可直接作为测量结果报告书使用。 |
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微小区域膜厚测量 |
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SEA6000VX也可对应SFT系列公认的镀层膜厚测量。极薄Au镀层等的膜厚测量自不必说，就连镀层中含有的Pb等的有害物质分析与膜厚测量也可同时进行。例如，可进行无铅焊锡镀层和引线架的Sn镀层，无电解Ni镀层中含有的有害物质的浓度测量。 |
| ■Sn-Ag/Cu的膜厚、组成比测量 |
皮膜中的有害物质分析（Pb）
分析范围：o1.2mm
薄膜FP法
测量时间：100秒（Pb滤波器）
30秒（无滤波器） |
■Au/Ni/Cu的膜厚测量 |
测量面积：o0.2mm
标准曲线法
测量时间：30秒 |
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