| 扫描探针显微镜 |
| 1. |
硅单原子层的观察 |
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| 2. |
芯片(Si Wafer)上的COP异物的观察 |
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| 3. |
双涂层录像带的MFM观察 |
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| 4. |
运用大型样品台设备SPA-500，采用磁显微镜（MFM），对硬盘GMR头 的观察 |
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| 5. |
运用大型样品台设备SPA-500，采用磁力显微镜（MFM）对硬盘的测定 |
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| 6. |
铁电体薄膜上记录的再生 |
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| 7. |
MFM analysis of magnetization process in CoPt
dot-array（英語版） |
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| 8. |
聚酰亚胺（polyimide胶片）薄膜的表面处理评价 |
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| 9. |
热敏打印头与打印用纸的AFM观察 |
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| 10. |
液晶显示屏用玻璃的观察 |
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| 11. |
Bonding不良电极端子镀金表面的形状评价 |
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| 12. |
铝基板的研磨处理 |
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| 13. |
液晶显示屏制作工程评价 |
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| 14. |
无Pb 焊锡镀金的表面粗糙度 |
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| 15. |
高性能聚酰亚胺胶卷表现处理评价（Nanopics） |
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| 16. |
液晶配列材料成膜条件的评价（Nanopics） |
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| 17. |
原子力显微镜（AFM）和扫描电子显微镜（SEM）成像的比较I（Nanopics） |
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